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São Paulo - Brasil










 

 

Aqui você encontra informações sobre nossa METODOLOGIA DE ENSINO na prática, com alguns exercícios. Confira abaixo:


» DIMENSIONAMENTOS
» ANÁLISES DE DEFEITOS NAS MALHAS.


ANÁLISE DE DEFEITOS NAS MALHAS: à partir das tensões ou formas de ondas indicadas, encontre somente um componente defeituoso, nos circuitos abaixo:

ANÁLISES DE DEFEITOS NAS MALHAS.
a) 1k Alterado (valor menor)
b) 1k Alterado (valor maior)
c) 1k Aberto
d) 2,7k Alterado (valor menor)
e) 2,7k Alterado (valor maior)
f) 2,7k Aberto
a) 1k alterado
b) 1k aberto
c) 2,7k alterado
d) 2,7k aberto
e) 2,2k alterado
f) 2,2k aberto
a) 2,7k alterado (valor maior)
b) 2,7k aberto
c) 47nF em curto
d) 47nF em fuga
e) 47nF aberto
f) 2,7k alterado (valor maior)
g) 2,7k aberto
h) 10nF em curto
i) 10nF com fuga
j) 10nF aberto
a) 100k alterado
b) 100k aberto
c) 10k alterado
d) 10k aberto
e) 1k alterado
f) 1k aberto
g) 100 ohms alterado
h) 100 ohms aberto
Transistor
i) Falta de ganho
j) Base-emissor aberta
k) Base-emissor em fuga
l) Base-emissor em curto
m) Coletor-base em fuga
n) Coletor-emissor em fuga
o) Coletor-emissor em curtoa
 
a) Capacitor Cin aberto
b) Capacitor Cin com fuga
c) Capacitor C2 Aberto
d) Capacitor C2 com fuga
e) Diodo D1 aberto
f) Diodo D1 com fuga
g) Resistor Rosc aberto
h) Resistor Rosc alterado
i) Capacitor Cos aberto
j) Capacitor Cos com fuga
k) Capacitor Cboot com aberto
l) Capacitor Cboot com fuga
m) Integrado L4973 com falta de excitação de saída
n) Integrado L4973 com baixa corrente de saída
o) Integrado L4973 com oscilador inoperante
p) Integrado L4973 com desarme atuand
q) integrado L4973 com FET de saida com fuga

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